一、背景

在運(yùn)輸行業(yè)中，火車運(yùn)輸發(fā)揮著非常大的作用，而火車車輪的質(zhì)量關(guān)系著火車的運(yùn)行安全。

如今車輪的輪輞已經(jīng)有成熟且的解決方案：

 

然而輪轂內(nèi)圈的制造質(zhì)量卻一直沒有高效的檢測手段，目前檢測手段只有表面檢測。

 

相控陣技術(shù)可以快速準(zhǔn)確的對(duì)輪轂內(nèi)圈進(jìn)行檢測

 

二、使用設(shè)備

奧林巴斯新設(shè)備X3

 

 

使用探頭：多晶片直探頭，一次可進(jìn)行大面積掃查

 

雙晶探頭，可對(duì)進(jìn)表面區(qū)域有較好的靈敏度

 

 

 

三、掃查過程

 

掃查數(shù)據(jù)：單晶探頭

 

 

 

掃查數(shù)據(jù)：雙晶探頭

 

 

 

從圖上可以清晰的看出缺陷的大小，深度等信息

 

四、結(jié)論

便攜式相控陣技術(shù)解決了輪轂內(nèi)圈的檢測問題。為了評(píng)估制造工藝，可以加裝編碼器形成C掃描來判斷缺陷的稠密程度。

可使用單晶和雙晶探頭兩次掃查進(jìn)行更加準(zhǔn)確的評(píng)估。